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產(chǎn)品詳細頁
ROHS/ELV/WEEE有害元素?zé)晒釾射線檢查裝置
- 產(chǎn)品型號：XGT-5700WR
- 更新時間：2026-03-17
- 產(chǎn)品介紹：ROHS/ELV/WEEE有害元素?zé)晒釾射線檢查裝置在保留XGT-1000WRX射線熒光光譜儀優(yōu)點的基礎(chǔ)上，Horiba又推出用于微區(qū)分析的X熒光分析儀。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技術(shù)，可將X射線聚集成10µm射線束。不但可以對樣品的表面進行形貌掃描，也可對樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)透視掃描，甚至還可以實現(xiàn)元素掃描.
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產(chǎn)品介紹
ROHS/ELV/WEEE有害元素?zé)晒釾射線檢查裝置
在保留XGT-1000WRX射線熒光光譜儀優(yōu)點的基礎(chǔ)上，Horiba又推出用于微區(qū)分析的X熒光分析儀。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技術(shù)，可將X射線聚集成10µm射線束。不但可以對樣品的表面進行形貌掃描，也可對樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)透視掃描，甚至還可以實現(xiàn)元素掃描.
概要
應(yīng)用
PCB基板的掃描為例 |
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電子組件內(nèi)部的異物、故障解析為例 | |
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特征
| XGT-5700WR系列 |
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X線照射徑 | Ø3mm標(biāo)準 |
一次X線濾膜 | Ø3mm照射徑:4種自動切換 |
二次X線濾膜 | 用于金屬中有害元素高靈敏度測定的標(biāo)準裝備 |
X線檢測器 | 液體氮氣冷卻3L |
高純度Si檢測器 | |
樣品形狀 | 不超過350×400×40mm |
樣品載臺 | 掃描范圍：100×100mm? 200×200mm（可選） |